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近赤外分光放射計 OL770-InGaAs

分光放射計 OL770シリーズ
 

・分光放射計OL770 近赤外モデル
・測定波長範囲 850~1700nm
・標準スリットサイズ 0.1nm(オプションで変更が可能)
・ハイスピードで高精度な測定を実現
・IRED/ソーラーシュミレーターの測定、レンズや光ファイバーの特性評価
 に最適

測定できる単位:
放射照度、放射輝度、放射強度、全放射束、反射率、配向測定
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製品情報   アクセサリー   機器性能表

機器性能表

  OL 770-InGaAs
測定波長域 850~1700nm
波長精度 ±1.0nm

半値幅

(100μmスリット

10nm
波長解像度 1.8nm
スリット

100μm(標準)
50μm及び200μm(オプション)

焦点距離 140mm(本体)
アパーチャー F/2
入光形式 φ1mm
1mグラスファイバー
動作温度  5℃ ~ 30℃
動作湿度 0% ~ 90%(結露無きこと) 
積分時間 1msec ~ 600sec 
A/D 分解能(bits)  16 bits
A/D レート(kHz)  250 kHz
入力電圧(Vac)  100/115/220/230, VAC, 50/60 Hz
インターフェイス USB, RS-232 
対応OS  Windows XP/2000/7
寸法(W x H x D)  18.4 x 33.6 x 33 cm
重量(kg)  10.2 Kg

測定・校正に関してこんなお悩みがありましたらご相談下さい。
  • どの様に光学測定をすればよいのか分からない
  • 複雑な形状な物の測定をしたい
  • 製品の光安全性のリスク評価が欲しい
  • ISO17025認定の光学校正が必要
  • 開発品の評価をして欲しい
  • 第三者測定機関による品質評価をして欲しい